如何檢測電路板上的未知芯片
相關電路板故障檢測儀用法：
1. 數字邏輯器件性能（直流參數）測試：
維修實踐發現，有些器件原有作用尚能實現，但參數卻發生了變化，元件性能表現的很不穩定，設備或電路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開發了針對集成電路直流參數的測試作用，支持對數字集成電路的輸入漏電流和輸出驅動電流等直流參數測試。如輸入漏電流（Iih,IiL,Vih,ViL）;輸出驅動電流（IOL，IOh，VOL，VOh）。
2. 數字邏輯器件在/離線作用測試：
能夠對多邏輯電平數字邏輯器件進行在線/離線作用測試；測試器件庫龐大，僅邏輯數字器件就1 萬多種；
測試範圍廣：TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門子器件庫。
3．ASA（VI）模擬特征分析測試：
ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應器件管腳的特征曲線差異檢測故障，可把故障定位到電路結點。ASA測試不涉及器件作用，無論何種元器件，模擬的、數字的、作用已知的、作用未知的都能檢測；ASA測試是逐管腳進行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進行測試。 ASA測試無需給電路板加電，
使用較為安全。
4．單/多端口VI曲線分析比較測試：
對器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式；單端口測試方式是指每個管腳對地提取壹遍阻抗特性曲線，而多端口是以任壹腳做參考提取壹遍VI曲線。
5．ASA 曲線雙棒動態比較測試：
使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應節點時時的進行動態比較測試；當被測板上的器件不能使用測試夾測試時，此種方法最有效。
6．ASA 曲線測試智能提醒作用：
當使用雙探棒進行比較測試時，如果超差，儀器會出現報警聲音，引起使用者註意，該測試方法利用微機喇叭產生類似於萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強度。
7．ASA 測試曲線靈敏度可調：
當ASA曲線走勢趨向於45度時，如果曲線的數據發生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度和測試參數相關，適當調整測試參數能夠得到更靈敏的曲線；該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。
8．可按管腳設置ASA 曲線測試參數：
可根據具體器件的測試需要，給不同管腳設置不同的測試參數，可設置任壹管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測試的靈活性。
9．ASA 曲線故障快速定位/查找作用：
當VI測試出現故障曲線時，測試儀提供快速的曲線定位/查找作用選項，使用戶觀察曲線更方便、直觀。
10. 對不穩定疑難曲線有效識別：
增強了對不穩定疑難曲線有效識別的判斷水平，降低了誤判率，進壹步提高了測試準確度。
11. VI曲線參數值量化作用：
即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應的參數測試值並保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直接進行編輯或瀏覽。
12. 求取平均曲線的測試作用：
用戶可以先測試多個器件,得到多個曲線文件,然後利用該作用把多個曲線文件平均成壹個曲線文件,作為以後的測試比較標準。
13．VI曲線雙板直接對比測試:
使用雙路測試夾對兩塊相同電路板（壹塊好板和壹塊壞板）上的相應IC同時進行VI曲線提取、存儲和比較測試，測試效率極高。
14．三端器件測試：
完成對三端分立元件的動態測試作用，如三極管、可控矽、場效應管、繼電器等元件測試。
15．ASA 曲線多種排列/顯示方式：
可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點或“畫線”來顯示曲線，單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小。
16．電容、電感定量測試：
可直接在離線狀態下準確測試電容的容量及漏電阻，並展現出電容在充放電過程中不同的阻值的過程；能夠測試出電感的電感量及串聯電阻；
17. 電路板圖象建庫測試：
通過數碼相機或掃描儀將壹塊好的電路板輸入到計算機內,在屏幕上就可以對該板上各個集成電路芯片進行編號,以便讓儀器知曉器件所在位置,然後即可對每壹個器件同時進行邏輯作用在線測試及VI曲線掃描測試,從而建立起整板的測試庫,當需要維修時,只需將該板從計算機軟件內調出,就可以直接對其進行故障診斷,適用於批量電路板的維修。
18．數字邏輯器件在線狀態測試：
能夠提取11種復雜的電路在線狀態，如開路、邏輯翻轉信號、非法電平、總線競爭等等狀態，對測試器件外電路的識別能力強。
19．總線競爭信號隔離作用：
用於解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競爭隔離信號。
上圖為：電路板故障檢測儀
20．IC型號識別：
針對標識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試。
21． LSI大規模集成電路在線作用及狀態分析測試：
可采取學習、比較的方式對壹些常見的LSI器件進行作用及狀態分析測試。
22．讀寫存儲器作用測試:
直接檢測存儲器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測試無需事先學習，有獨立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式。
23．只讀存儲器作用測試：
可采取在線（離線）學習/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結果定位到存儲單元地址上，並打印出該地址正確和錯誤的代碼。
24．元器件循環測試作用：
該作用可對數字邏輯器件、集成運放、光耦等器件進行重復測試，直到出現錯誤或被終止，易於發現壹些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．數字邏輯器件測試閾值可調作用：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過調整器件的閾值電平，能夠發現壹些如器件驅動能力下降導致的電路故障。
26．加電延遲可選作用：
當遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時可用到此作用。該選項是確定在測試儀接通外供電源以後，需要等待多長時間後才開始進行測試。
27．測試夾接觸檢查作用：
主要解決當測試夾和被測器件接觸不良（如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不幹凈等）時，造成的測試誤判。
28．運算放大器在線作用測試：
使用模擬信號測試運放在線性放大區的工作特性，測試技術或國家發明專利，有獨立的測試器件庫，包含LM324、LM348等***計3000多種。
29. 電壓比較器測試：
模擬電壓比較器用於判斷兩個信號的微小差異，通過本測試儀可以很容易測試。
30．光電耦合器在線作用測試：
由於光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學嚴謹，準確度高；有獨立的光耦測試器件庫，
達500多種。
31．光電耦合器離線直流參數測試：
可在離線情況下對光耦的主要直流參數（如光電轉換系數等）進行測試，解決了由於器件的參數變化難以發現的故障現象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測試平臺：
把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測元件或電路的輸入施加激勵信號，然後從輸出采集響應信號，類似於函數發生器+示波器的測試方法。
33. UDT下AD、DA類器件作用測試：
用戶通過UDT控制聰能測試儀，向被測試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數字、模擬激勵信號，從輸出取回相應的響應信號，通過比較相同激勵信號下，器件/電路的實測響應信號和預期（標準）響應信號的符合程度，實現故障檢測。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號發生器+示波器”測試方式的直接擴充。本測試儀上能夠設置多種測試信號，並且能把測試信號以及好板電路對測試信號的響應，關聯在壹起存放在計算機中――建立用戶自己的電路板測試庫，用於對故障板的測試；也可以把同樣的測試信號同時加在好、壞板的電路上，直接對照兩者的輸出結果。
35．電路板網絡測試:
使用模擬信號提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關系，測試時無須加電，通/斷閾值設置明確。能夠支持對用戶的標準Protel 網絡表文件的直接導入,使網絡中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測試：
可以測出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個區：截止區、放大區、和飽和區的具體情況。可用於晶體管的篩選，尤其在晶體管配對時特別有用。
37．填表方式擴充模擬器件庫：
以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態：如：正輸入腳、負輸入腳、輸出腳、正電源腳、負電源腳、接地腳，以及其他狀態等。
38．以編程方式擴充數字器件庫：
采用HNDDL語言，自適應技術完善；把擴充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫。
39．元器件速查手冊（電子詞典）：
元件庫容量近四萬種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經驗體會，發生的重要事情等，長期保存這些資料並積累經驗，會大大提高維修水平和技能。
41．後臺操作記錄：
測試儀會自動記錄測試過程及測試結果等信息。
電路板故障往往表現為系統啟動失敗、屏幕無顯示等難以直觀判斷的故障現象，因此我們要掌握壹些檢測方法，在發生故障時，及時發現，及時解決，電路板故障檢測儀就是可以高效檢測電路板的儀器。