方塊電阻與厚度有關嗎?

方塊電阻與厚度有關。

方塊電阻有壹個特性，即任意大小的正方形測量值都是壹樣的，不管邊長是1米還是0.1米，它們的方阻都是壹樣，這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關，表征膜層致密性，同時表征對熱紅外光譜的透過能力。

方塊電阻測量數值愈大，則隔離熱紅外性能越差，方塊電阻測量數值愈小則隔離熱紅外性能越好，對於建築行業來講低輻射玻璃的熱紅外性能測量的快速測量就必須選用方塊電阻測量儀，測量值愈小則建築材料就愈節能。

擴展資料

方塊電阻的測量方法：

如果方阻值比較小，如在幾個歐姆以下，因為存在接觸電阻以及萬用表本身性能等因素，用萬用表測試就會存在讀數不穩和測不準的情況。這時就需要用專門的用四端測試的低電阻測試儀器，如毫歐計、微歐儀等。

測試方法如下：

用四根光潔的圓銅棒壓在導電薄膜上。四根銅棒用A、B、C、D表示，它們上面焊有導線接到毫歐計上，使BC之間的距離L等於導電薄膜的寬度W，至於AB、CD之間的距離沒有要求，壹般在10--20mm就可以了，接通毫歐計以後，毫歐計顯示的阻值就是材料的方阻值。

蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料，衡量它們厚度的最好方法就是測試它們的方阻。

百度百科-方塊電阻