日本核泄漏地區果蔬變異，如何鑒別食物是否被核汙染？
檢驗食物是否有被核汙染，這需要借助專業的儀器設備——核汙染檢測儀，或者送到專業的檢測中心檢測或定期監測。
核輻射監測原理及方法
能夠指示、記錄和測量核輻射的材料或裝置。輻射和核輻射探測器內的物質相互作用而產生某種信息（如電、光脈沖或材料結構的變化），經放大後被記錄、分析，以確定粒子的數目、位置、能量、動量、飛行時間、速度、質量等物理量。核輻射探測器是核物理、粒子物理研究及輻射應用中不可缺少的工具和手段。按照記錄方式，核輻射探測器大體上分為計數器和徑跡室兩大類。
計數器 ?以電脈沖的形式記錄、分析輻射產生的某種信息。計數器的種類有氣體電離探測器、多絲室和漂移室、半導體探測器、閃爍計數器和切倫科夫計數器等。
專業核輻射檢測儀器
氣體電離探測器?
通過收集射線在氣體中產生的電離電荷來測量核輻射。主要類型有電離室、正比計數器和蓋革計數器。它們的結構相似，壹般都是具有兩個電極的圓筒狀容器，充有某種氣體，電極間加電壓，差別是工作電壓範圍不同。電離室工作電壓較低，直接收集射線在氣體中原始產生的離子對。其輸出脈沖幅度較小，上升時間較快，可用於輻射劑量測量和能譜測量。正比計數器的工作電壓較高，能使在電場中高速運動的原始離子產生更多的離子對，在電極上收集到比原始離子對要多得多的離子對(即氣體放大作用)，從而得到較高的輸出脈沖。脈沖幅度正比於入射粒子損失的能量，適於作能譜測量。蓋革計數器又稱蓋革-彌勒計數器或G-M計數器，它的工作電壓更高，出現多次電離過程，因此輸出脈沖的幅度很高，已不再正比於原始電離的離子對數，可以不經放大直接被記錄。它只能測量粒子數目而不能測量能量，完成壹次脈沖計數的時間較長。
半導體探測器 ?
輻射在半導體中產生的載流子（電子和空穴），在反向偏壓電場下被收集，由產生的電脈沖信號來測量核輻射。常用矽、鍺做半導體材料，主要有三種類型：①在n型單晶上噴塗壹層金膜的面壘型;②在電阻率較高的 p型矽片上擴散進壹層能提供電子的雜質的擴散結型;③在p型鍺（或矽）的表面噴塗壹薄層金屬鋰後並進行漂移的鋰漂移型。高純鍺探測器有較高的能量分辨率，對γ輻射探測效率高，可在室溫下保存，應用廣泛。砷化鎵、碲化鎘、碘化汞等材料也有應用。
閃爍計數器 ?
通過帶電粒子打在閃爍體上，使原子（分子）電離、激發，在退激過程中發光，經過光電器件（如光電倍增管）將光信號變成可測的電信號來測量核輻射。閃爍計數器分辨時間短、效率高，還可根據電信號的大小測定粒子的能量。閃爍體可分三大類：①無機閃爍體，常見的有用鉈(Tl)激活的碘化鈉NaI(Tl)和碘化銫CsI(Tl)晶體，它們對電子、γ輻射靈敏，發光效率高，有較好的能量分辨率，但光衰減時間較長；鍺酸鉍晶體密度大，發光效率高，因而對高能電子、γ輻射探測十分有效。其他如用銀 (Ag)激活的硫化鋅ZnS(Ag)主要用來探測α粒子;玻璃閃爍體可以測量α粒子、低能X輻射，加入載體後可測量中子；氟化鋇 (BaF2)密度大，有熒光成分，既適合於能量測量，又適合於時間測量。②有機閃爍體，包括塑料、液體和晶體(如蒽、茋等)，前兩種使用普遍。由於它們的光衰減時間短(2～3納秒，快塑料閃爍體可小於1納秒)，常用在時間測量中。它們對帶電粒子的探測效率將近百分之百。③氣體閃爍體，包括氙、氦等惰性氣體，發光效率不高，但光衰減時間較短（＜10納秒）。
切倫科夫計數器 ?
高速帶電粒子在透明介質中的運動速度超過光在該介質中的運動速度時，則會產生切倫科夫輻射，其輻射角與粒子速度有關，因此提供了壹種測量帶電粒子速度的探測器。此類探測器常和光電倍增管配合使用；可分為閾式(只記錄大於某壹速度的粒子)和微分式（只選擇某壹確定速度的粒子）兩種。 ? 除上述常用的幾種計數器外，還有氣體正比閃爍室、自猝滅流光計數器，都是近期出現的氣體探測器，輸出脈沖幅度大，時間特性好。電磁量能器(或簇射計數器)及強子量能器可分別測量高能電子、γ輻射或強子（見基本粒子）的能量。穿越輻射計數器為極高能帶電粒子的鑒別提供了途徑。
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