張躍飛的專利授權
1. 發明專利:韓曉東,張躍飛,張澤. 壹種熱雙金屬片驅動的透射電子顯微鏡載網，專利號: ZL200610144031.X
2. 發明專利:韓曉東,張躍飛,張澤. 單根納米線原位力學性能測試和結構分析的方法及其裝置，專利號: ZL 200610057989.5.
3. 發明專利:韓曉東,張躍飛,張澤. 掃描電鏡中納米線原位拉伸裝置及方法，專利號: ZL 200610169839.3
4. 發明專利：韓曉東，張躍飛，毛聖成，張 澤. 掃描電鏡電子背散射衍射原位拉伸裝置及測量的方法，專利號：ZL 200710176364.5
5. 發明專利：韓曉東，嶽永海，張躍飛，張澤. 壹種納米材料原位結構性能測試的透射電鏡載片，專利號：ZL200710122092.0
6. 發明專利：韓曉東, 嶽永海, 鄭坤, 張躍飛, 張澤. 壓電陶瓷片驅動的掃描電鏡中納米材料拉伸裝置，專利號：ZL200810056837.2
7. 發明專利：韓曉東, 嶽永海, 張躍飛, 張澤. 透射電鏡用納米材料應力測試載網，專利號：ZL200810056836.8
8. 發明專利：韓曉東，劉攀，張躍飛，嶽永海，張澤. 應力狀態下納米材料力電性能與顯微結構測量裝置，專利號：ZL200820124520.3
9. 發明專利：韓曉東，劉 攀，鄧青松，張躍飛，張 澤，透射電鏡用非磁性雙金屬片驅動器，專利號：ZL20091008973.1
10. 發明專利：張躍飛. 壹種柔印陶瓷網紋輥的制備方法，專利號：ZL201010123371.0
11. 發明專利：韓曉東，嶽勇海，張躍飛，張澤. 壹種基於掃描電鏡的納米壓痕系統，專利號：ZL201010142310.9
12. 發明專利：韓曉東，嶽永海，張躍飛，劉攀，鄭坤，張澤. 透射電鏡用雙軸傾轉的原位力、電性能綜合測試樣品桿，專利號：ZL201110145305.8
13. 美國發明專利：Han, X. D., Liu, P., Zhang, Y. F., Zhang, Z., Device and method for measuring electromechanical properties and microstructure of nano-materials under stress state. Patent No. US8,069,733B2.
14. 美國發明專利：Han, X. D., Yue, Y. H., Zhang, Y. F., Liu, P., Zheng, K., Wang, X. D., Zhang, Z., Double tilt transmission electron microscope sample holder for in-situ measurement of microstructures, Patent No. US8,569,714B2.